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GB/T 17178.4-2010 信息技术 开放系统互连 一致性测试方法和框架 第4部分:测试实现

作者:标准资料网 时间:2024-05-02 07:54:14  浏览:9283   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:信息技术 开放系统互连 一致性测试方法和框架 第4部分:测试实现
英文名称:Information technology—Open systems interconnection—Conformance testing methodology and framework—Part 4: Test realization
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 信息处理技术 >> 计算机开放与系统互连
ICS分类: 信息技术、办公机械设备 >> 开放系统互连(OSI)
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-01-14
实施日期:2011-05-01
首发日期:2011-01-14
作废日期:
主管部门:全国信息技术标准化技术委员会
提出单位:中华人民共和国工业和信息化部
归口单位:全国信息技术标准化技术委员会
起草单位:中国电子技术标准化研究所
起草人:卓兰、黄家英、吴东亚
出版社:中国标准出版社
出版日期:2011-05-01
页数:16页
适用范围

GB/T17178的本部分规定了一些要求,并给出了涉及与按照GB/T17178.2规定的参数抽象测试套(ATS)规范的一致性测试手段(MOT)的实现指南。
本部分适用于产生测试单方协议、多方协议或轮廓用的MOT。

前言

没有内容

目录

前言 Ⅰ 引言 Ⅱ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 缩略语 2 5 测试实现概述 2 5.1 引言 2 5.2 测试工具合成 2 5.3 测试手段(MOT)的功能 3 5.4 已选择的和参数化的测试套 3 5.5 参数化可执行测试套(PETS) 3 6 测试实现的要求 3 6.1 引言 3 6.2 测试手段(MOT)的要求 3 6.3 关于执行测试套(ETS)派生的要求 4 6.4 一致性记录的要求 5 6.5 扩充IXIT书写形式的要求 6 6.6 关于其他文档的要求 6 7 符合性 6 附录A (资料性附录) 关于测试实现的附加指南 7

引用标准

下列文件中的条款通过GB/T17178的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB9387—1988 信息技术 开放系统互连 基本参考模型 第1部分:基本模型(idtISO7498:1984)(又见ITU-T建议X.200(1984))
GB/T17178.1—1997 信息技术 开放系统互连 一致性测试方法和框架 第1部分:基本概念(idtISO/IEC9646-1:1994)
GB/T17178.2—2010 信息处理系统 开放系统互连 一致性测试方法和框架 第2部分:抽象测试套规范(ISO/IEC9646-2:1994,MOD)
GB/T17178.6—2010 信息技术 开放系统互连 一致性测试方法和框架 第6部分:协议轮廓测试规范(ISO/IEC9646-6:1994,IDT)
ISO/IEC9646-3:1998 信息技术 开放系统互连 一致性测试方法和框架 第3部分:树和表的组合表示法
ISO/IEC9646-5:1994 信息技术 开放系统互连 一致性测试方法和框架 第5部分:一致性评估过程对测试实验室和客户的要求
ISO/IEC9646-7:1995 信息技术 开放系统互连 一致性测试方法和框架 第7部分:实现一致性声明
ETSIES201873V2.2.1:2003 测试描述方法(MTS)测试和测试控制表示法 第三版

所属分类: 电子元器件与信息技术 信息处理技术 计算机开放与系统互连 信息技术 办公机械设备 开放系统互连(OSI)
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基本信息
标准名称:2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网 高速下行分组接入(HSDPA)Uu接口物理层技术要求 第6部分:物理层测量
替代情况:替代YD/T 1721.6-2007
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2011-05-18
实施日期:2011-06-01
首发日期:
作废日期:
出版社:人民邮电出版社
出版日期:2011-06-01
适用范围

本部分规定了2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网高速下行分组接入(HSDPA)Uu接口UE和网络测量的描述和定义,包括UE/UTRAN测量的控制、UTRA TDD测量能力等。
本部分适用于2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网高速下行分组接入(HSDPA)Uu接口物理层。

前言

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引用标准

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所属分类: 矿业 有色金属矿 贵金属矿 采矿和矿产品 金属矿 其他金属矿
【英文标准名称】:TestMethodforShallowEtchPitDetectiononSiliconWafers
【原文标准名称】:探测硅片表面浅蚀坑的测试方法
【标准号】:ASTMF1049-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;电子工程;试验
【英文主题词】:testing;silicones;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:H25
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:
【正文语种】:英语



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